X-eye 5000N Series
Wstępny system kontroli rentgenowskiej
-
Analiza nieniszcząca elementów półprzewodnikowych, SMT i elektronowych/elektrycznych
-
Inspekcja S/W może być zainstalowana do masowej produkcji komponentów SMT i elektronowych/elektrycznych.
-
Różne wygodne funkcje – Łatwa obsługa
Praktyczny system kontroli rentgenowskiej |
Specyfikacje
Lampa rentgenowska | 100 kV / 200 µA (option 130 kV / 200 µA) |
---|---|
Min. Rezolucja | 5 µm |
Wielkość stołu | 460 X 340 mm (option 650 X 550 mm) |
Oś | X, Y, Z, Tilt (±50º) |
Detektor | 2.5 inch FPXD or 5 inch FPXD, 1.3M Pixel 30fps |
Metoda skanowania CT | Nie można wykonać tomografii komputerowej |
Odcisk stopy | 1,500(W) x 1,145(D) x 1,490(H)mm |
Waga | 920kg |
QFP
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/QFP_1.png)
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/QFP_22.png)
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/QFP_3.png)
Moduł kamery
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/Camera-Module_1.png)
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/Camera-Module_2.png)
![](https://seceng.cafe24.com/wp-content/uploads/2016/08/Camera-Module_3.png)